首先晶振是有缘晶振和无源晶振的总称，上面我们也知道，无源晶振才需要匹配电容，无源晶振也叫做晶体。晶体的电容如果在0.1U和0.01U之间，是比较大的。晶振的标称值在测试时有一个“负载电容”的条件，在工作时满足这个条件，振荡频率才与标称值一致。

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一般来讲，有低负载电容（串联谐振晶体）和高负载电容（并联谐振晶体）之分。在电路上的特征为： 晶振串一只电容跨接在IC两只脚上的，则为串联谐振型;一只脚接IC，一只脚接地的，则为并联型。如确实没有原型号，需要代用的可采取串联谐振型电路上的电容再并一个电容，并联谐振电路上串一只电容的措施。例如： 4.433MHZ晶振，并一只3300PF电容或串一只70P的微调电容。另一种说法是“损耗值”与“激励电平“ 之说：

其实，上述原因都可以作为选择晶振的条件作为考虑。常见的晶振有2脚跟4脚，其实无源晶振2脚跟4脚的差别不大，因为主要它还是靠2个脚在工作，3脚的晶振是一种集晶振和电容为一体的复合元件。由于在集成电路振荡端子外围电路中总是以一个晶振（或其它谐振元件）和两个电容组成回路，为便于简化电路及工艺，人们便研制生产了这种复合件。其3个弓|脚中，中间的1个脚通常是2 个电容连接一起的公共端，另外2个引脚即为晶振两端，也是两个电容各自与晶振连接的两端。

单片机振荡电路。在单片机片内有一个高增益的反相放大器，反相放大器的输入端为XTAL1，输出端为XTAL2，由该放大器构成的振荡电路和时钟电路一起构成了单片机的时钟方式。根据硬件电路的不同，单片机的时钟连接方式可分为内部时钟方式和外部时钟方式，在内部方式时钟电路中，必须在XTAL1和XTAL2引脚两端跨接石英晶体振荡器和两个微调电容构成振荡电路，通常C1和C2一般取30pF，晶振的频率取值在1.2MHz～12MHz之间。对于外接时钟电路，要求XTAL1接地，XTAL2脚接外部时钟，对于外部时钟信号并无特殊要求，只要保证一定的脉冲宽度，时钟频率低于12MHz即可。

晶体振荡器的振荡信号从XTAL2端送入内部时钟电路，它将该振荡信号二分频，产生一个两相时钟信号P1和P2供单片机使用。时钟信号的周期称为状态时间S，它是振荡周期的2倍，P1信号在每个状态的前半周期有效，在每个状态的后半周期P2信号有效。CPU就是以两相时钟P1和P2为基本节拍协调单片机各部分有效工作的。

示波器测试晶振。晶振波形一般是正弦波或者方波，当输出波形是方波时，一般上升沿比较抖，且包含了较多的高频信号，这个时候就要保证测试的带宽足够，理论值是带宽是被测信号频率的2倍，实际测试方波时带宽应该是被测信号频率的10倍。除了带宽之外，在测试晶振时，还有一点应该重点注意：晶振对电容负载较敏感，探头电容相对较大，相当于一个很重的负载并联在晶振电路中，容易导致电路停振而得不出正确的测量结果。所以在进行晶振测试的时候，需要保证足够的带宽和较小的输入电容。

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用200M示波器可以测试10M晶振的波形，但在测试的时候，探头选择了1档位，探头在1档时带宽为10MHz，输入电容为55 pF±10 pF，由此导致了波形的失真。将探头档位调为10档，此时探头带宽为250MHz，输入电容为13pF±5 pF，我们来看看此时的波形吧。为了提高信号保真度，还应使用探头标配的接地弹簧代替接地鳄鱼夹就近接地。在使用示波器进行测试的时候，除注意示波器的设置之外，还要注意当前探头的档位，不同的档位对应不同的参数，合适的才是最好的。

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