发布时间:2023-04-23 阅读量:1481 来源: 我爱方案网整理 发布人: Aurora
随着嵌入式行业的快速发展,ARM核心板、ARM工控板得到越来越广泛的应用。ARM核心板将主控制器(MPU)、内存、存储、电源管理等关键器件打包成的一个最小系统,完善的操作系统及驱动可以极大缩短项目开发周期。本文将简单阐述如何正确选择合适的存储类型。
当前ARM核心板所用到的存储(电子硬盘)大体分为两类:Nand flash和eMMC。Nand flash存储器是flash存储器的一种,使用复杂的I/O口来串行地存取数据,各个产品或厂商的方法可能各不相同 ,一般是8个引脚用来传送控制、地址和数据信息。
eMMC 本质上还是Nand flash ,eMMC=Nand flash +闪存控制芯片+标准接口封装,其内部集成的闪存控制器具有读写协议、擦写均衡、坏块管理、ECC校验、电源管理、时钟管理、数据存取等功能,极大降低了Nand-flash的使用难度。
一般来讲,当主控制性能较低时(如ARM9、Cortex-A7),其所搭配的存储容量也较低,在256M、512M时通常选择Nand flash。当主控制性能较高时(如Cortex-A9、Cortex-A53),其所搭配的存储容量也较高,在4GB、8GB甚至32GB时eMMC将更具性价比。
NAND Flash与eMMC
只知道Nand flash和eMMC之间的简单区别,还不足以选择好存储,接下来我们看一下Nand flash闪存颗粒对性能、安全及价格方面的影响。
Nand flash闪存颗粒主要包括四种类型:SLC、MLC、TLC、QLC。
第一代SLC(Single-Level Cell)每单元可存储1比特数据(1bit/cell),性能好、寿命长,可经受10万次编程/擦写循环,但容量低、成本高,市场上用的比较少;
第二代MLC(Multi-Level Cell)每单元可存储2比特数据(2bits/cell),性能、寿命、容量、成各方面比较均衡,可经受1万次编程/擦写循环,目前主流的核心板厂商大都配置该类型的存储;
第三代TLC(Trinary-Level Cell)每单元可存储3比特数据(3bits/cell),性能、寿命变差,只能经受3千次编程/擦写循环,但是容量可以做得更大,成本也可以更低,大多数固态硬盘的选择;
第四代QLC(Quad-Level Cell)每单元可存储4比特数据(4bits/cell),性能、寿命进一步变差,只能经受1000次编程/擦写循环,但是容量更容易提升,成本也继续降低。
SLC、MLC、TLC、QLC存储图示
综合以上情况,若是用于一般性工业或商业应用的ARM核心板,搭载性价比较高的MLC NAND即可;若项目对数据、系统的要求极高,则需要选择SLC存储方案的ARM核心板,最大程度的降低因存储导致的系统崩溃或关键数据丢失。
方案介绍
支持单芯片和通用MCU的智能家居载波墙壁开关
1.方案介绍:
该方案采用MKL05带触摸功能的MCU,实现了在智能家居面板触摸检测的功能,节省板子空间并降低了方案成本。
基于窄带载波解决方案,采用了是我司代理的nxp的M0+内核mcu。
主要采用了MKL05内部的UART以及TOUCH,以及timer,GPIO等功能单元。
2.主要功能和性能参数:
a、支持单芯片实现触摸功能和通用MCU
b、小的封装体积
c、与现有PLC实现uart互通
3.方案应用细分市场:
a、智能电网
框图:
基于新唐ML51开发的电池管理系统(BMS)—超低功耗MCU+AFE方案
方案简介
1:基于ML51开发的电池管理系统(BMS)方案,是电池与用户之间的纽带,主要就是为了提高电池的利用率,防止电池出现过度充电和过度放电。
2:系统特性
•ML51是性能增强型 1T 8051微控制器,内嵌Flash,运行速度可达24 MHz
•5至14节高精度电池电压测量功能
•充放电电流测量功能
•短路保护功能
•内置电池平衡开关
•外部充放电FET控制
•双通道温度检测
•过压保护功能
性能参数
行业分类 : 电源电池
开发平台 : Nuvoton 新唐
交付形式 : PCBA
性能参数 : 运行速度 : 24 MHz
应用场景 : BMS 电池保护板
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