ESD的产生解决办法和接地保护与悬空的影响

发布时间:2018-10-9 阅读量:713 来源: 发布人:

电子消费类、数码产品中专门的静电阻抗器ESD(静电保护元件):电压范围为〈24V,极间电容有〈2.5pf的,响应速度小于1ns,极低的漏电流,封装主要为0603和0402。在电器正常工作过程中,ESD只是表现为容值极低的(一般〈5pf)容抗特性,不会对正常的电器特性产生影响,且不会影响到电子产品的信号及数据传输;当器件两端的过电压达到预定的崩溃电压时,迅速(纳秒级)做出反应,以几何级数的量放大极间漏电流通过,从而达到吸收、减弱静电对电路特性的干扰和影响。同时,由于ESD静电阻抗器的构成材质的特殊性,ESD往往都是通过对静电进行吸收和耗散,亦即表现为一个充放电的过程,来达到对设备进行静电防护,所以设备中的ESD静电阻抗器都不易老化损坏。


ESD的产生解决办法和接地保护与悬空的影响


控制解决ESD基本方法:

1.接地 接地就是将静电通过一条线的连接放入大地,这是防静电措施中最直接最有效的。导体常用的接地方法有:带防静电手腕及工作表面接地等。 

2.静电屏蔽 静电敏感元件在储存或运输过程中会暴露于有静电的区域中,用静电屏蔽的方法可削弱外界静电对电子元件的影响。最通常的方法是用静电屏蔽袋作为保护。 

3.离子中和 绝缘体往往是易产生静电的,对绝缘体静电的消除,用接地方法是无效的,通常采用的方法是离子中和, 即在工作环境中使用离子风机,离子气枪。


当控制侧接口受到静电放电时,能量通过控制侧保护器泄放至PE,对隔离通信接口基本无影响。当总线接口受到静电放电时,由于总线侧悬空,能量只能通过隔离栅的等效电容Ciso进行泄放,由于Ciso非常小,仅有几皮法至十几皮法,Ciso被迅速充电,两端电压Viso会非常高,几乎等同于放电电压。电压全部施加在隔离接口模块的隔离栅,若电压超出了隔离栅的电压承受范围,则会导致内部隔离栅损坏。当控制侧接口受到静电放电时,由于控制侧悬空,能量只能通过隔离栅的等效电容Ciso进行泄放,由于Ciso非常小,两端电压Viso会非常高。电压全部施加在隔离接口模块的隔离栅,若电压超出了隔离栅的电压承受范围,则会导致内部隔离栅损坏。


ESD的产生解决办法和接地保护与悬空的影响


当设备自身接PE,总线组网后单点接PE。这种状态下设备控制侧、总线侧都通过一定方式接入保护地(PE)。当控制侧接口受到静电放电时,能量通过控制侧保护器泄放至PE1,对隔离通信接口基本无影响,当总线侧接口受到静电放电时,静电能量通过隔离接口模块内部总线侧器件泄放至PE2,若ESD能量超出了接口模块内部总线侧器件的ESD抗扰能力,总线接口则可能损坏。


在总线侧增加高等级ESD防护器件(如TVS管),静电能量会通过防护器件泄放至PE2,由此来提高总线侧的静电能力。为了满足上述提到的三种设备状态下,隔离接口模块均得到有效的静电保护,建议进行隔离接口设计时,增加Cp、Rp以及TVS,提高隔离接口的ESD抗扰能力。注意,若产品有安规要求,如需要进行耐压测试、绝缘电阻测试,则不能增加Rp电阻。
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